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焊接材料的设计与作用机理——低压电器焊接组件的纽带

作者:Hiwave和伍

随着工业技术的发展,电器的安全可靠变得更加重要,对触头组件、热组件、 磁组件、导电连接组件的永固性连接提出了愈来愈高的要求,作为低压电器制造 行业重要工艺之一的钎焊,起着愈来愈重要的作用。

低压电器焊接组件的纽带

低压电器开关中触点烧损、银点脱落等问题都与产品使用寿命有直接关系。 据可靠数据统计,焊接质量差的触头,烧损量要增加 2~3 倍,同等产品设计下, 由于焊接质量问题导致的产品失效更为显著。其中焊接工艺、焊接材料、被焊母 材、焊接装备起到重要作用。 这里我们主要关注焊接材料的选型及其作用机理。焊料是连接基材与母材的 纽带,适用于精密、复杂和异类材料的焊接,在低压电器领域有广泛的应用。如下图所示,根据不同的分类方式,可细分为银基、铜基、固态、粉态、膏态、含 磷、不含磷等种类。如此繁多的焊料种类,正确的设计与应用尤为重要。

银基钎焊膏


低压电器焊接组件的纽带


 焊接过程最容易出现的缺陷焊接层中气孔、裂纹、夹渣,这些缺陷产生的机 理和过程是怎样的,以银点焊接铜件为例,从材料角度,分析缺陷产生过程。在 焊接过程中,随着温度升高,铜逐渐被氧化,若铜的氧化过程未被阻止,极易在 其表面与氧气发生作用形成氧化亚铜。焊缝在凝固时,铜可与氧化亚铜形成低熔 点共晶,一般并分布在铜的晶界上,不利于焊接接头的机械性能。而银点不存在 高温氧化问题,氧化银在 300℃以上就会自然分解,因此脆裂层一般存在于近铜 端,焊缝理论模型如下图所示。

焊膏焊接原理

钎焊产生气孔的直接原因是有银/铜的导热性非常好,焊接熔池在凝固过程 中由于铜或银的导热性能好而具有较快的凝固速度,从而导致在焊接熔池中的气 体溶解度极度下降,开始外排,但上浮时间短而不能够及时的逸出形成气孔。这 些气体是焊接过程中一系列变化产生的。

银触点与铜基板焊接时在熔合区与焊缝容易产生热裂纹,其原因主要是有 下面几个方面:铜的线膨胀系数较大;熔池冷却过程中结晶易形成氧化亚铜-铜 的共晶(Cu+Cu2O);母材中杂质在晶界上偏析。

通过了解上述缺陷产生机理及过程,我们分析如何从焊接材料角度减少相关 缺陷产生。

以含磷焊料为例,这类焊料本身具有脆性,但因为 P 的存在,焊料流动性好, 因此又被广泛应用。如何通过材料设计,既能保证焊料流动性,又能降低焊接接 头脆性,满足焊接性能要求,是含磷系列焊料可靠应用的关键。首先向大家阐述 一下含 P 焊料的作用机理。

磷在焊料中起到两种作用:

其一,根据 Cu-P 相图,P 可以显著的降低铜的熔点,当 P 的质量分数含量 达到 8.38%时,铜与磷形成熔化温度为 714℃的低熔点共晶,其组织由 (Cu)+Cu3P 组成。Cu3P 为脆性相,一般认为随着 P 含量的增加,Cu3P 相增多,导 致铜磷合金太脆而无使用价值,这是为什么我们在选用含磷钎料时,应限定磷 含量。而且 Cu3P 的脆性决定了铜磷钎料的室温脆性大,不能冷加工,限制了一 些型号产品的高品质成型,但这两年,一些行业代表型企业,突破技术瓶颈, 采用新的生产工艺及产品设计,解决了相关难题。

其二,P 在大气环境下钎焊铜时具有自钎作用。这主要是因在钎焊过程中 生成的氧化铜可以与 P 发生反应:5CuO+2P=P2O5+5Cu。还原产物 P2O5会继续与氧 化铜作用形成液态的复合氧化物,其覆盖于母材表面上,可以有效防止母材进 一步的氧化,从而起到自钎的作用。

值得注意的是,含磷焊料耐硫化腐蚀能力弱,与铁基黑色金属润湿性差,同 时会与 Fe 反应形成脆性相,因此在直接焊接铁及含铁合金(表面镀覆处理除外) 时,需谨慎选择焊料类型。

进一步的,清楚 P 的作用机理后,可以通过添加合金元素、提高焊料钎焊活 性等方法提高焊接可靠性。这里不再赘述相关研究过程,我们将相关研究结果分享给大家。通过添加 YM-A、YM-B、YM-X 等一种或多种元素,可提高焊接接头可 靠性,焊接界面被进一步细化到如下理论模型:分为界面层、扩散层、残留层。

焊接原理

焊缝残余层主要成分为大块状的 Cu3P 化合物、Cu 基固溶体(分布在大块状化 合物的边界处),部分未向母材扩散的 Cu3P+Cu 合金固溶体组成的共晶组织。

 扩散层主要为含 YM-A、YM-B、YM-X、P 的 Cu 基固溶体。

界面层主要为部分 YM-A 和 P 通过界面扩散和体积扩散与母材形成的冶金结 合层。

从焊接界面结构组成来看,要提高焊接强度,降低接缝脆性,需要降低残留 层厚度、较少 Cu3P 相生成,改变 Cu3P 形貌,同时形成塑性好的新材料相,并一定限度降低钎焊温度、提高焊料钎焊活性。

 焊料设计原理:

YM-A 元素可以降低合金熔点、使合金中共晶成分增加,减少 Cu3P 脆性相的 生成,而且由大块状向花瓣状转变,改善脆性相的分布状态。 YM-B 可以与 Cu 发生共晶反应,进一步降低钎料熔点,改进其韧性,同时可 以提升钎焊接头的导电性能。

 YM-X 含量主要改变了 Cu3P 相的形状,由长条状和枝状向球状转变,脆性相 球化,可以增强钎料的塑性,降低接头脆性。

使用高活性助焊剂,且不与金属母材发生反应及侵蚀,可有效避免铜晶界共 晶相的产生,并有助于形成光滑饱满的接缝。

随着低压电器的不断发展,新的产品不断被设计出来,新的材料不断被应用, 对组件的焊接可靠性提出越来越高的要求。希望通过本次焊接及焊料作用机理分 析,以及焊接材料设计研究,能对提高低压电器焊接质量可靠性起到积极作用。



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